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Anite流線lte先進設(shè)備測試塘廈IO開關(guān)
Anite已推出lte先進(lte一)場景模式能力的發(fā)展工具集。
場景模式,描述為一個易于使用的圖形界面,使工程師沒有特定的編程技能,迅速有效地開發(fā)和編輯測試腳本。
無線技術(shù)的不斷進步導(dǎo)致了日益復(fù)雜的移動設(shè)備,需要更多的測試來確保按預(yù)期執(zhí)行。此外,許多運營商需要新的技術(shù)是兼容與遺留系統(tǒng)和工作在不同頻率和網(wǎng)絡(luò)世界各地。更全面的測試在早期階段的研發(fā)生命周期會導(dǎo)致更少的問題在商業(yè)化的一個設(shè)備,從而加速投放市場的時間。
用戶的Anite的lte一個場景模式能夠創(chuàng)建大多數(shù)類型的測試——即使是最復(fù)雜的,通過一個簡單的拖拽的圖形界面。它提供了一個基于過程而不是一個基于消息的方法創(chuàng)建的腳本,它可以使測試創(chuàng)建更簡單和更快。用戶創(chuàng)建了一個完整的測試通過裝配過程塊沒有一定的工作通過詳細的每個消息。
Anite聲稱其開發(fā)工具為用戶提供了一個獨特的靈活性和控制快速驗證復(fù)雜的底層測試場景,提供一個強大的工具套件,支持整個無線設(shè)備開發(fā)生命周期,從pre硅協(xié)議模塊開發(fā)到系統(tǒng)集成和驗證。
Anite最近宣布,它是第一個發(fā)布一個靈活和全面的eICIC濃縮lte一個設(shè)備測試解決方案,基于它的開發(fā)工具集。在2月Anite首次宣布支持行業(yè)領(lǐng)先的峰值數(shù)據(jù)速率對lte一個載波聚合。
“推出lte一個啟用了場景模式在我們的開發(fā)工具集進一步演示了Anite的市場領(lǐng)先的路線圖和解決方案能力”,Paul Beaver說,產(chǎn)品Anite董事。他繼續(xù)說,“支持我們的芯片組和設(shè)備制造業(yè)客戶提供簡化和快速檢測在早期發(fā)展階段將有助于加快新設(shè)備的市場”。
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