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英國華威大學(xué)的科學(xué)家已經(jīng)想出一個新的方法來提高測量的組件的表面要求用于高精度和納米技術(shù)的應(yīng)用程序。
與要求的小配件,更高的性能,更強(qiáng)調(diào)其表面產(chǎn)生高附加值的產(chǎn)品。
據(jù)英國華威大學(xué),兩個新興的后果是使用模式和結(jié)構(gòu)的表面,和復(fù)雜的形式,兩者都必須控制以優(yōu)化地區(qū)如潤滑、粘連和光學(xué)性能。
這些改進(jìn)的關(guān)鍵是測量這些表面為了制造高精密最小的缺陷,這是對傳統(tǒng)測量技術(shù)問題。
一個新的想法構(gòu)思教授大衛(wèi)·懷特豪斯工程學(xué)院的華威大學(xué)據(jù)說承諾成為第一步解決這些新的測量問題。
他設(shè)計了一個基于高斯濾波技術(shù),但這有一個新的數(shù)學(xué)策略描述在《皇家學(xué)會學(xué)報》上。這個技術(shù)是類似于圖像分析,除了它考慮幾何而不是強(qiáng)度變化。
他在一份聲明中說,“這項(xiàng)技術(shù)提高特征鮮明,本質(zhì)上是現(xiàn)在高科技結(jié)構(gòu)化表面如邊緣,凹槽和邊界的方式使他們的詳細(xì)的幾何形狀和位置是更好比以前的方法決定的。”
據(jù)說這個技術(shù)還可以便于檢測和描述,對表面缺陷。
結(jié)構(gòu)化和自由曲面的應(yīng)用程序可在大范圍的大小,例如在光學(xué)、半導(dǎo)體、渦輪機(jī)和納米技術(shù)可能,如果意識到它的潛力,方法直接受益。
摘要理論改進(jìn)的高斯濾波工程表面,可以在這里找到。
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